設備原理

　　X射線的波長與晶體中原子平面之間的距離相似。該晶體可用作X射線的空間衍射光柵。當一束X射線照射一個物體時，它被物體中的原子散射。每個原子產生散射波。這些波相互干擾，產生衍射。衍射波疊加的結果引起輻射。線的強度在某些方向上增加，在其他方向上減少。通過對衍射結果的分析，可以得到晶體結構。

　　用途及功能

　　一、 結晶度分析

　　通過求出總的積分面積和非晶漫散峰的面積我們可以得到材料材料的結晶度。

　　二、 晶粒大小分析

　　通過對XRD衍射峰的分析，利用謝樂公式，我們可以計算得到晶粒尺寸的大小。

　　三、 薄膜的物相鑒定-X射線掠入法

　　常規的X射線可以穿透幾個微米，但是當薄膜樣品薄膜厚度只有幾十納米甚至幾納米時，常規的反射法測試基地的信號會對薄膜的信號產生干擾，X射線掠入射法正是把入射X射線以與樣品表面近于平行的方式入射，使X射線的穿透深度降低與樣品表面的作用面積增大，從而只測得薄膜的信號。

　　四、結晶狀態分析

　　對于結晶狀態的物質和非晶態的物質，在XRD的譜圖中，衍射峰有明顯的曲別，結晶程度越差，衍射峰呈漫散狀，因此可直接通過衍射峰的峰形來判斷物質的結晶狀態。

　　五、 物相的定性分析

　　由于每種晶體結構與其X射線衍射譜圖之間都有一一對應的關系，且不會因為與其他物質混合而使其特征譜圖發生變化，以此為依據X射線衍射就可用于物相的定性分析。在應用中，當對某種材料進行物相分析時，我們通常物質的X射線衍射圖與數據庫中的標準衍射花樣圖譜進行比對，從而判斷物相的組成。

　　以上內容就是我為大家總結的X射線衍射儀設備的介紹，相信大家經過我的介紹，已經解答了各位心中的疑惑或者問題。